관찰소재 : ZnO  Nanowire
관찰장비 : TEM
배율 : 30000배



투과전자현미경(TEM)을 이용하여 나노와이어를 관찰을 할 때 단면 (옆면)의 관찰은 용이하지만 평면 (윗면)의 관찰은 어렵습니다. 투과전자현미경으로 시편을 관찰하려면 시편이 전자가 투과될 정도로 얇아야 하는데 나노와이어를 평면 방향으로 얇게 만드는 것은 매우 어렵기 때문입니다. 하지만  나노와이어가 어떤 결정학적면으로 성장하고 이루어져 있는지를 알기 위해서는 나노선의 평면 관찰이 반드시 필요합니다. 상기 사진은 특수한 방법으로 데미지를 최소화한 시편을 제작하여 ZnO 나노와이어의 평면을 TEM으로 관찰한 사진입니다. ZnO 나노와이어의 표면이 예쁜 육각형 모양으로 이루어져 있는 것을 확인할 수 있습니다. 전봇대 모양의 나노와이어를 위에서 보니 마치 육각형 모양의 공기알을 뿌려놓은 듯하네요.