소속 : 조선대학교 메카트로닉공학
관찰소재 : sapphire wafer
관찰장비 : FE-SEM
배율 :  416배

PSS sapphire wafer를 분석하던 도중 Wafer Edge에서 특이한 모습이 발견되어 측정해 보았습니다. Carbon taping하는 도중에 이물질이 동시에 흡착이 되어 하나의 우스운 형상을 만들어 낸 것 같습니다.(이물질 사이에서 Charging이 발생하여 외투가 흔들리는듯 한 모습) 작품은 언덕끝에서 허공을 향해 총을 쏘는 하나의 외계생명체 같은 모습과 같이 보입니다.